Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01636062
Soumis le : jeudi 16 novembre 2017-10:12:31
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01636062 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.07.028
Citer
V. Pouget, S. Jonathas, R. Job, J.-R. Vaillé, Frédéric Wrobel, et al.. Structural pattern extraction from asynchronous two-photon laser fault injection using spectral analysis. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.650 - 654. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.028⟩. ⟨hal-01636062⟩
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