Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01695326
Soumis le : lundi 29 janvier 2018-11:20:11
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
Suresh Balanethiram, Rosario d'Esposito, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer, Jorg Berkner, et al.. Extracting the temperature dependence of thermal resistance from temperature-controlled DC measurements of sige HBTs. 2017 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), Oct 2017, Miami, France. ⟨10.1109/BCTM.2017.8112919⟩. ⟨hal-01695326⟩
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