Étude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 1986

Scanning transmission electron microscopy of grain boundaries in ceramics

Étude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques

Résumé

The microstructure of zinc oxide-based varistors and barium titanate-based dielectrics in the presence of LiF was studied using STEM electron microscopy on samples thinned after heat treatment. Particular attention was paid to the structure of grain boundaries, intergranular phases and segregation layers. This study enabled us to correlate microstructures and electrical properties, and to clarify the sintering mechanism of these ceramics.
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L'étude de la microstructure de varistances à base d'oxyde de zinc et de diélectriques à base de titanate de baryum en présence de LiF a été réalisée par microscopie électronique STEM sur des échantillons amincis après traitement thermique. Une attention particulière a été portée à la structure des joints de grains, aux phases intergranulaires et aux couches de ségrégation. Cette étude a permis d'une part de corréler les microstructures et les propriétés électriques et d'autre part de préciser le mécanisme de frittage de ces céramiques.
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Dates et versions

tel-00182709 , version 1 (26-10-2007)

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Paternité - Pas d'utilisation commerciale - Pas de modification

Identifiants

  • HAL Id : tel-00182709 , version 1

Citer

Annick Poupard-Potin. Étude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques : Application aux cas des varistances à base de ZnO et des diélectriques BaTiO3-LiF. Matériaux. Université Sciences et Technologies - Bordeaux I, 1986. Français. ⟨NNT : 1986BOR10622⟩. ⟨tel-00182709⟩

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CNRS LCS
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