Development of Magnetic Microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2011

Development of Magnetic Microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits

Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels

Résumé

Magnetic Microscopy techniques are brought into play in this PhD to held the failure analysis of electronic components
Cette thèse étudie l'application de le microscopie de champs magnétiques à l'analyse de défaillance des composants électroniques.

Domaines

Electronique
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Dates et versions

tel-00997421 , version 1 (28-05-2014)

Identifiants

  • HAL Id : tel-00997421 , version 1

Citer

Fulvio Infante. Development of Magnetic Microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits. Electronics. Université Sciences et Technologies - Bordeaux I, 2011. English. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00997421⟩
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