NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES
Résumé
Laser Two-Photon Absorption (TPA) technique is studied in this work. Its use to detect default or inject faults in integrated circuits is discussed.
Ce travail de thèse a contribué au développement de la techniques de test par faisceau laser en mode d'absorption deux photons (TPA). Cette technique a plus spécifiquement été utilisée pour la détection de défauts et l'injection de fautes dans les circuits intégrés.
Domaines
Electronique
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