Reliability of Analog-to-Digital Sigma-Delta Converters - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2013

Reliability of Analog-to-Digital Sigma-Delta Converters

Fiabilisation de Convertisseurs Analogique-Num´erique a Modulation Sigma-Delta

Résumé

Due to the continuously scaling down of CMOS technology, system-on-chips (SoCs) reliability becomes important in sub-90 nm CMOS node. Integrated circuits and systems applied to aerospace, avionic, vehicle transport and biomedicine are highly sensitive to reliability problems such as ageing mechanisms and parametric process variations. Novel SoCs with new materials and architectures of high complexity further aggravate reliability as a critical aspect of process integration. For instance, random and systematic defects as well as parametric process variations have a large influence on quality and yield of the manufactured ICs, right after production. During ICs usage time, time-dependent ageing mechanisms such as negative bias temperature instability (NBTI) and hot carrier injection (HCI) can significantly degrade ICs performance.
La fiabilit´e des ICs est d´efinie ainsi : la capacit´e d’un circuit ou un syst`eme int´egr´e `a maintenir ses param`etres durant une p´eriode donn´ee sous des conditions d´efinies. Les rapports ITRS 2011 consid`ere la fiabilit´e comme un aspect critique du processus d’int´egration. Par cons´equent, il faut faire appel des m´ethodologies innovatrices prenant en compte la fiabilit´e afin d’assurer la fonctionnalit´e du SoCs et la fiabilit´e dans les technologies CMOS `a l’´echelle nanom´etrique. Cela nous permettra de d´evelopper des m´ethodologies ind´ependantes du design et de la technologie CMOS, en revanche, sp´ecialis´ees en fiabilit´e.

Mots clés

Domaines

Electronique
Fichier principal
Vignette du fichier
Cai_PhDthesis_TPT0046.pdf (7.96 Mo) Télécharger le fichier
Loading...

Dates et versions

tel-01171598 , version 1 (06-07-2015)

Licence

Copyright (Tous droits réservés)

Identifiants

  • HAL Id : tel-01171598 , version 1

Citer

Hao Cai. Reliability of Analog-to-Digital Sigma-Delta Converters. Electronics. Telecom Paristech, 2013. English. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-01171598⟩
140 Consultations
952 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More