Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2012

Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories

Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles

Résumé

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Dates et versions

tel-01557725 , version 1 (06-07-2017)

Identifiants

  • HAL Id : tel-01557725 , version 1

Citer

Alban Zaka. Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories. Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université de Grenoble, 2012. English. ⟨NNT : 2012GRENT118⟩. ⟨tel-01557725⟩
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