Approches a base de connaissances pour le test de circuits VLSI : application à la validation de prototypes dans le cadre d'un test sans contact - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 1991

Knowledge-based approaches to VLSI circuit testing : application to prototype validation by contactless testing

Approches a base de connaissances pour le test de circuits VLSI : application à la validation de prototypes dans le cadre d'un test sans contact

Résumé

LES CIRCUITS ET SYSTEMES ANALOGIQUES SONT DE PLUS EN PLUS UTILISES DANS LE CADRE D'APPLICATIONS NOUVELLES. ILS DEVIENNENT EGALEMENT PLUS COMPLEXES, CE QUI CREE LA NECESSITE DE DISPOSER DE METHODES AUTOMATIQUES POUR LEURS TESTS ET LEURS DIAGNOSTICS QUI A EUX DEUX REPRESENTENT UN PROBLEME CRUCIAL DANS CE DOMAINE. BIEN QUE LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES CIRCUITS DIGITAUX AIT ETE DEVELOPPE AVEC SUCCES AU POINT QU'IL A PU ETRE AUTOMATISE, SON DEVELOPPEMENT POUR LES CA EN EST ENCORE A SES PREMIERS PAS. IL Y A DEUX RAISONS PRINCIPALES A CETTE SITUATION, IL N'Y AVAIT PAS UN BESOIN PRESSANT DANS L'INDUSTRIE JUSQU'A RECEMMENT, D'UNE PART, ET D'AUTRE PART, LA NATURE ELECTRIQUE DES CA EST TRES COMPLEXE. CETTE THESE, QUI SE PLACE DANS CE CONTEXTE, A POUR OBJECTIF DE DEVELOPPER UNE NOUVELLE APPROCHE POUR LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES CA ET MIXTES. UNE VOIE RELATIVEMENT PEU EXPLOREE, MAIS PROMETTEUSE EU EGARD AUX RESULTATS OBTENUS POUR LE DIAGNOSTIC D'AUTRES DISPOSITIFS ET SYSTEMES DYNAMIQUES, CONSISTE EN L'ETUDE D'APPROCHES DE L'IA POUR LA RESOLUTION DE PROBLEMES. NOUS AVONS ETUDIE LES DIFFERENTES APPROCHES POSSIBLES ET NOTAMMENT LES APPROCHES SUIVANTES : L'APPROCHE A BASE DE MODELES PROFONDS, L'APPROCHE QUALITATIVE ET L'APPROCHE A BASE DE LOGIQUE FLOUE. LE RESULTAT DE CETTE THESE A DONNE LIEU A UNE NOUVELLE APPROCHE DEVELOPPEE UTILISANT LA LOGIQUE FLOUE ET SES TECHNIQUES. CETTE NOUVELLE APPROCHE A ETE IMPLEMENTEE DANS UN SYSTEME NOMME FLAMES. FLAMES, QUI EST CONCU POUR FAIRE LE DIAGNOSTIC DES CA, A APPORTE PLUSIEURS AMELIORATIONS DE L'ETAT DE L'ART NOTAMMENT EN DEFINISSANT LES TOLERANCES COMME DES INTERVALLES FLOUS. IL EST AUSSI CAPABLE DE REALISER LA SIMULATION DES CIRCUITS ET DE CHOISIR LES MEILLEURS POINTS A TESTER LORSQUE LE DIAGNOSTIC RESTE AMBIGU. CETTE DERNIERE POSSIBILITE EST REALISEE PAR UNE APPROCHE SEMI-QUALITATIVE A BASE DU RAISONNEMENT QUALITATIF ET DE LOGIQUE FLOUE. IL EST POSSIBLE DE LA DEVELOPPER POUR LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES SYSTEMES MIXTES, PUISQU'ELLE S'APPLIQUE AUX CIRCUITS DIGITAUX EGALEMENT. FINALEMENT, LES DIFFERENTS RESULTATS OBTENUS CONFIRMENT LA VALIDITE DE L'APPROCHE DEVELOPPEE ET IMPLEMENTEE. MOTS-CLEFS : TEST ET DIAGNOSTIC, CIRCUITS ANALOGIQUES, LOGIQUE FLOUE, APPROCHES D'INTELLIGENCE ARTIFICIELLE.
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Dates et versions

tel-00339355 , version 1 (17-11-2008)

Identifiants

  • HAL Id : tel-00339355 , version 1

Citer

Meryem Marzouki. Approches a base de connaissances pour le test de circuits VLSI : application à la validation de prototypes dans le cadre d'un test sans contact. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1991. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00339355⟩

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