Piégeage d'ions très chargés pour la mesure de durée de vie d'états métastables. - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2007

Highly charged ion trapping for lifetime measurement.

Piégeage d'ions très chargés pour la mesure de durée de vie d'états métastables.

Dina Attia
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 845073

Résumé

A new experimental setup dedicated to highly charged ion trapping is presented in this Thesis. The final goal of this work is to perform lifetime measurement of metastable states produced by our ECR ion source. Lifetimes to be measured are in the range a few ms and more.
L'objectif de ma thèse a été la mise en œuvre d'un nouveau dispositif expérimental couplant la source ECR SIMPA à un nouveau type de piège électrostatique. Différentes applications sont possibles. Tout d'abord, la source ECR SIMPA produit des ions dans des états métastables avec des temps de vie de l'ordre de la dizaine de milliseconde. Notre dispositif expérimental permet de mesurer les durées de vie de transitions (M1) des états métastables de l'Ar9+,de l'Ar13+ et de l'Ar14+. Ceci nous permet de tester les théories du problème relativiste à n corps. D'autre part, le piégeage des ions multichargés permet de mesurer des sections efficaces pertinentes pour l'astrophysique (Vents solaires, Nébuleuses planétaires) et les plasmas peu denses. En effet, il est ainsi possible de mesurer les sections efficaces de capture d'électron des ions multichargés, mais aussi les sections efficaces de diffusion ion-ion, ou ion-particule neutre.
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Dates et versions

tel-00194354 , version 1 (06-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : tel-00194354 , version 1

Citer

Dina Attia. Piégeage d'ions très chargés pour la mesure de durée de vie d'états métastables.. Physique Atomique [physics.atom-ph]. Université Pierre et Marie Curie - Paris VI, 2007. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00194354⟩
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