Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques - TEL - Thèses en ligne Access content directly
Theses Year : 1983

Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Abstract

Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.
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Dates and versions

tel-00307439 , version 1 (29-07-2008)

Identifiers

  • HAL Id : tel-00307439 , version 1

Cite

Sylvain Sadier. Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1983. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00307439⟩

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