Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre - TEL - Thèses en ligne Access content directly
Theses Year : 1990

Functional test generation of digital circuits described using the data-flow language : Lustre

Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre

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Al-Mahrous.Mazen_1990_these.pdf (15.18 Mo) Télécharger le fichier

Dates and versions

tel-00337894 , version 1 (10-11-2008)

Identifiers

  • HAL Id : tel-00337894 , version 1

Cite

Mazen Al Mahrous. Génération de test fonctionnel de circuits digitaux décrits avec un langage déclaratif : Lustre. Modélisation et simulation. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 1990. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00337894⟩

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