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Thèse Année : 2010

METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES

Résumé

Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the failure analysis of integrated circuits
Ce travail développe l'analyse de différents paramètres électrique obtenu lors de cartographies laser, afin de procéder à une détection de défauts

Domaines

Electronique
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Dates et versions

tel-00998834 , version 1 (02-06-2014)

Identifiants

  • HAL Id : tel-00998834 , version 1

Citer

Magdalena Sienkiewicz. METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES. Electronique. Université Sciences et Technologies - Bordeaux I, 2010. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00998834⟩
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