METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES
Résumé
Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the failure analysis of integrated circuits
Ce travail développe l'analyse de différents paramètres électrique obtenu lors de cartographies laser, afin de procéder à une détection de défauts
Domaines
Electronique
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