Les travaux de cette thèse traitent de l'élaboration d'une méthodologie efficace pour la modélisation des effets parasites dans une carte en large bande de fréquence. La réduction du «Time to Market» pour la conception des produits RF et hyperfréquences nécessite le développement d'une méthode efficace de caractérisation et de modélisation pour mieux prendre en compte les erreurs incluses dans la carte de test.Les principaux résultats concernent les contributions suivantes :- Mise au point des standards de calibrage innovateur pour caractériser et modéliser les effets parasites inhérent au modèle.- Élaboration d'une nouvelle approche basée sur une technique de calibrage TRL et une méthode d’élimination efficace de ces effets.- Application aux dispositifs différentiels lors de l'utilisation du calibrage TRL dans le cas de plusieurs ports.La nouvelle approche proposée pour le calibrage et le de-embedding est appliquée à un dispositif actif qui est actuellement utilisé dans l'industrie. Les résultats de mesure d’un dispositif inclus dans une carte de test ont été comparés à des mesures calibrées à l’aide d’une carte d’évaluation comportant des standards TRL.Cette étude a été prolongée avec le calibrage TRL multi-port pour être utilisé pour la bande large des dispositifs comme les dispositifs différentiels.