Scanning transmission electron microscopy of grain boundaries in ceramics
Étude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques
Résumé
The microstructure of zinc oxide-based varistors and barium titanate-based dielectrics in the presence of LiF was studied using STEM electron microscopy on samples thinned after heat treatment. Particular attention was paid to the structure of grain boundaries, intergranular phases and segregation layers. This study enabled us to correlate microstructures and electrical properties, and to clarify the sintering mechanism of these ceramics.
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L'étude de la microstructure de varistances à base d'oxyde de zinc et de diélectriques à base de titanate de baryum en présence de LiF a été réalisée par microscopie électronique STEM sur des échantillons amincis après traitement thermique. Une attention particulière a été portée à la structure des joints de grains, aux phases intergranulaires et aux couches de ségrégation. Cette étude a permis d'une part de corréler les microstructures et les propriétés électriques et d'autre part de préciser le mécanisme de frittage de ces céramiques.