Etude de la robustesse d'amplificateurs embarqués dans des applications portables soumis à des décharges électrostatiques (ESD) au niveau système - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2013

Robustness study of embedded amplifiers in mobile applications submitted to Electro Static Discharges (ESD) at the system level

Etude de la robustesse d'amplificateurs embarqués dans des applications portables soumis à des décharges électrostatiques (ESD) au niveau système

Résumé

With improvement in electronic technology shrinking, electronic components are increasingly becoming sensitive to ElectroStatic Discharge (ESD). Nowadays, the reliability of integrated circuits in the manufacturing field are guaranteed by a set of standards that define levels of robustness. Nevertheless the protection strategies implemented in integrated circuits, designed to meet these standards, are not always enough to ensure the robustness of the components in their final application. The new reliability problems are not well understood, given the complexity of the phenomena involved in real systems in operation. Taking into account these facts, we can question the effectiveness of the strategies used to protect against " classical ESD " and system-type stresses. All the work presented in this thesis aims to improve the robustness with respect to these new requirements, in the case study of analog components dedicated to portable applications (telephony, multimedia). Starting from a concrete case, for which there is a large difference in the system ESD robustness between the biased and unbiased product, we will present the various results of analysis (failure analysis, electrical characterization by impulse like TLP VFTLP, SPICE-type simulations) that led us to the proposal of an integrated security solution that meets the requirements.
Avec les évolutions technologiques, les composants électroniques deviennent de plus en plus sensibles aux décharges électrostatiques (ESD). De nos jours, la fiabilité des circuits intégrés dans les étapes de fabrication est garantie par un ensemble de normes définissant des niveaux de robustesse. Mais les stratégies de protection implémentées dans les circuits intégrés, visant à respecter ces normes, ne suffisent pas toujours à garantir la robustesse des composants dans leur application finale. Ces nouveaux problèmes de fiabilité ne sont pas encore bien compris, étant donnée la complexité des phénomènes mis en jeu dans un système réel en fonctionnement. En tenant compte de ces faits, nous pouvons nous interroger sur l'efficacité des stratégies de protection contre les ESD utilisées de façon conventionnelle pour protéger contre des stress de type système. L'ensemble des travaux de thèse présentés vise à l'amélioration de la robustesse, quant à ces nouvelles exigences, de composants analogiques dédiés aux applications portables (téléphonie, multimédia). En partant d'un cas concret, pour lequel il existe une grande différence de robustesse entre le produit alimenté et non-alimenté, nous présenterons les différents résultats d'analyse (analyse de défaillance, caractérisation électrique en impulsion de type TLP et VFTLP, simulations de type SPICE) qui nous ont conduits à proposer une solution de protection intégrée respectant les exigences.
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Dates et versions

tel-00849735 , version 1 (31-07-2013)

Identifiants

  • HAL Id : tel-00849735 , version 1

Citer

Sandra Giraldo Torres. Etude de la robustesse d'amplificateurs embarqués dans des applications portables soumis à des décharges électrostatiques (ESD) au niveau système. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2013. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-00849735⟩
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