Terahertz-Nahfeldmikroskopie
Terahertz near field microscopy
Développement d'un système de microscopie en champ proche térahertz
显微系统近场太赫兹开发
Résumé
This work presents results on terahertz near-field microscopy using two types of probes. The first probe is mainly sensitive to the transverse component of the electric field. The second probe, whichis a sensitive to the longitudinal componen Ez, was coupled to a study of guided modes on cylindrical waveguide. This work comprises electromagnetic FDTD simulations and experiments.
Ce travail présente des résultats sur la microscopie en champ proche terahertz utilisant deux types de sondes. La première sonde, dite à ouverture, comporte une facette de quelques dizaines de microns qui permet de capter principalement la composant transverse du champ électrique. La seconde sonde, qui utilise une pointe sensible à la composante longitudinale, a été également l'occasion d'une étude des modes guidés sur les guides d'ondes cylindriques. Ce travail comporte des simulations électromagnétiques FDTD et des expérimentations.
这项工作提出使用两种类型的传感器，太赫兹近场显微镜的结果。第一探针，所述开口包括一个几十微米的一个方面是主要捕获电场的横向分量。第二个探头，它使用一个敏感的尖端纵向分量，也是在圆波导引导模式的研究之际。这项工作包括电磁FDTD仿真和实验。
Loading...