Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité - TEL - Thèses en ligne Accéder directement au contenu
Thèse Année : 2016

Multiphysics simulation of integrated circuits for reliability

Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité

Résumé

This thesis was carried out under the theme of the microelectronics Integrated Circuits Reliability. The aim of our work was to develop a multi-physics simulation tool for the design of reliable integrated circuits. This tool has the following innovative features : • (i) The integration in a standard microelectronics design environment, such as the Cadence® environment ;• (ii) The possibility of efficient simulation, over long periods, of analog CMOS circuits taking into account the aging henomenon ; • (iii) The simulation of multiple physical behaviours of ICs (electrical-thermalmechanical) coupled in the same environment using the direct simulation method. This work was carried out through three main stages detailed in the three parts of this Manuscript.
Cette thèse porte sur le thème général de la fiabilité des circuits microélectroniques. Le but de notre travail fut de développer un outil de simulation multi-physiques pour la conception des circuits intégrés fiables qui possède les caractéristiques innovatrices suivantes : • (i) L’intégration dans un environnement de conception microélectronique standard, tel que l’environnement Cadence® ; • (ii) La possibilité de simulation, sur de longues durées, du comportement des circuits CMOS analogiques en tenant compte du phénomène de vieillissement ; • (iii) La simulation de plusieurs physiques (électrique-thermique-mécanique) couplées dans ce même environnement de CAO en utilisant la méthode de simulation directe. Ce travail de thèse a été réalisé en passant par trois grandes étapes traduites par les trois parties de ce manuscrit.
Fichier principal
Vignette du fichier
Garci_Maroua_2016_ED269.pdf (6.22 Mo) Télécharger le fichier
Origine Version validée par le jury (STAR)
Loading...

Dates et versions

tel-01496664 , version 1 (27-03-2017)

Identifiants

  • HAL Id : tel-01496664 , version 1

Citer

Maroua Garci. Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Strasbourg, 2016. Français. ⟨NNT : 2016STRAD020⟩. ⟨tel-01496664⟩
164 Consultations
435 Téléchargements

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More