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Thèse Année : 2018

A New ADC topology for reliable conversion in the automotive environment

Analyse d’une nouvelle topologie fiable de convertisseur analogique-numérique pour l’environnement automobile

Résumé

In the automotive industry, the trend being to develop smartsensors and actuators, the on-board electronic has been ever more an artful workto combine analog electronics and the digital one. While many monitoring andcontrol systems play a crucial role as well for the safety as for the comfort of passengers,small components, like ADCs, are mandatory as a building block or as anessential functionality integrated into smart actuators. To that extent, a low-cost,fast and accurate analog to digital converter operating in those harsh conditionsis a good ally for equipment manufacturers. To decrease the cost, the area is ofprimary concern. Considering re-use of the ADC as an IP-bloc, the area has beenlimited to less than half a square millimeter for an low-oversampling ratio of 5 tooutput a 12-bit code at a sample rate of 20 MSamples/s, over a wide temperaturerange from-40°C to 175°C.This work focuses on the design of high-precision, high-speed and energyefficient ADC under the harsh environment the automotive one represents. Ourmain contribution relies on the development of an new hybrid topology proposalusing 3 stages to cope with such constraints based on a top-down approach: A firstcounting stage inherently linear, an algorithmic stage allowing to increase rapidlythe precision, and a SAR stage, ideal in terms of area and consumption, for a lownumber of bits.Based on a 40 years literature review, a new topology proposal has been validatedby checking its static metric of non-linearity (DNL, INL) at different level ofmodelisation. Starting by a MATLAB implementation without analog limitations,we refined step by step the model tillwe reach a transistor level of the ADC. Thence,Verilog-A model allows us to fix the minimum requirements of the key analog buildingblocks, to wit comparators and OTA. The latter has been analysed in order tolimit the settling error sensitivity to the temperature. Laid-out, parasitic extractedsimulation results of these considering PVT variations, they replace then previoushigh-level model to give final performances. Meanwhile, two well-known comparatorarchitectures have been assessed as IP blocs inside a first test chip. To performthe offset extraction, both a conventional and a feedback loop have been inspected.To assess, the delay a new asynchronous circuit has been proposed. A secondchip tests the sensitivity of the SAR to validate both the pseudo-asynchronousdigital scheme, and a Double-Tail comparator in real operating conditions.For comparators, the new differential measurement circuit of the delaydemonstrate an accuracy of 60 ps in the worst case, over a large temperature rangefor the smallest chip area known with respect to the technology node size. Thetemperature variation of the delay being temperature dependent, the choice of aStrong-ARM or a Double-Tail hinge on the noise, power, supply voltage, and kickbackspecification. For standard power supply voltage, the Strong-ARM latch targetslow-power systems application with a high tolerance for differential kickback.To the contrary, a Double-Tail latch allows lower power supply voltage range, withlow-differential kickback. Otherwise, the Double-Tail exhibit a higher noise due tothe integration in its first stage. Tested from -40°C to 200°C, the last stage of theproposed ADC topology does not need calibration up to 180°C. The encouragingresults on this stage allows the re-use of the SAR to calibrate the previous stages.And considering the ADC, we estimate a possible resolution of 11.2-bits in 5 clockcycles per sample with an extension to 13.3-bits in 6 clock cycles with an estimatedarea of 0.12 mm2.The ADC test chip not being fabricated yet, a first step is the characterizationof the ADC. From the results of the planned measurement session, the maingoal is to push the architecture at higher sampling rates to then leverage the digitalprocessing to enhance the sampling rate without changing the analog.
La tendance du secteur automobile à développer des capteurs etactionneurs intelligents, faire cohabiter l’électronique analogique et l’électroniquenumérique devient un art. Placé au sein des actionneurs, pour la sécurité et le confortdes passagers, les convertisseurs analogique-numérique (CAN) sont les composantsclés de ces systèmes intelligents. Un CAN rapide, précis, et peu cher serévèle être un précieux allié pour les équipementiers automobiles. Pour diminuerles coûts, et faciliter l’utilisation de ce bloc, la surface de silicium occupée doit êtreconsidérablement réduite à moins de 0.5mm2. Quant à la précision du convertisseur,12-bits tous les 5 coups d’une horloge de 100 MHz sont nécessaires pour unetempérature de -40°C à 175°C.Ce travail de recherche se focalise sur l’amélioration de l’efficacité énergétiquesous les contraintes que l’environnement automobile représente. Notre principalecontribution réside dans le développement par une approche top-downd’une nouvelle architecture à 3 étages de topologies différentes. Le premier étageest un ΣΔ-Incrémental intrinsèquement linéaire. Le second étage est un algorithmiquepour augmenter rapidement la résolution. Enfin, un SAR accroît la résolutionavec faible consommation de puissance et surface de silicium.Suite à l’analyse de 40 années d’état de l’art, la nouvelle architecture proposéefut validée par vérification des non-linéarités statiques (DNL, INL) à différentsniveaux de modélisation. Commençant par un modèle MATLAB sans leslimitations analogiques, le niveau de modélisation se raffine petit à petit jusqu’auniveau transistor du convertisseur. Un modèle Verilog-A permit la déterminationdes spécifications minimales des briques de base analogiques: les comparateurs etles amplificateurs à transconductance. La sensibilité de ces derniers à la températurefut analysée pour limiter les erreurs commises sur les tensions analogiques.Une fois dessinés et les parasites extraits, les modèles variant avec la températureremplacent leurmodèle Verilog-A respectif afin d’obtenir les performances finales.Parallèlement, deux architectures de comparateurs ont été évaluées en températureau sein d’une première puce de test. Deux méthodes ont été utilisées pour estimerl’offset des comparateurs, et un nouveau circuit asynchrone estime le délai.Une seconde puce de test permet de vérifier la sensibilité du SAR à la températuremalgré un fonctionnement pseudo-asynchrone.Pour les comparateurs, le nouveau circuit de mesure différentielle du retardmontre une précision de 60 ps dans le pire des cas, pour la plus petite surface surpuce connue en considérant la technologie utilisée. Comme la variation du retardest dépendante de la température, le choix d’un Strong-ARM (SA) ou d’un Double-Tail (DT) dépendra du bruit, de la puissance, de la tension d’alimentation, et de laspécification de kickback. Pour une tension d’alimentation standard, les SA comparateursciblent les systèmes à faible consommation avec une tolérance élevéepour le kickback différentiel. Au contraire, les DT comparateurs acceptent uneplage de tension d’alimentation plus faible, et présentent un faible kickback différentiel,mais un bruit plus important. Testé de -40°C à 200°C, le dernier étagedu CAN proposé, n’a pas besoin d’être calibré jusqu’à 180°C. Les résultats encourageantssur cet étage permettent la réutilisation de celui-ci pour calibrer les étagesprécédents. Et pour le CAN, nous estimons une résolution possible de 11,2 bitsen 5 cycles d’horloge par échantillon avec une extension à 13,3 bits en 6 cyclesd’horloge. La surface estimée est de 0,12mm2.La puce de test pour le CAN est en cours de finalisation, une première étapesera sa caractérisation. Les résultats de cette session de mesure détermineront s’ilest possible de pousser l’architecture à des fréquences plus élevées pour ensuitetirer parti du traitement numérique pour conserver les performances.
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Origine : Version validée par le jury (STAR)

Dates et versions

tel-04224299 , version 1 (02-10-2023)

Identifiants

  • HAL Id : tel-04224299 , version 1

Citer

Ludwig Cron. A New ADC topology for reliable conversion in the automotive environment. Other. Université Paris Saclay (COmUE), 2018. English. ⟨NNT : 2018SACLC077⟩. ⟨tel-04224299⟩
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